HS-LDTS2000LD芯片测试设备-常温-高温

LD芯片测试设备(常高温)

HS-LDTS2000型 LD Chip Tester测试机是LD芯片电气和光学特性自动测试、判定及分选的高速双温测试机。温控系统采用高效TEC,实现快速升温及降温,可满足在+20℃至+95℃范围内测试。采用大光敏面PD探测器进行光功率数据的采样转换,测试数据的再现性和重复性稳定可靠、数据准确。

特点:

※   测试速度快:循环交替测试、提高工作效率,测试时间≤5.5秒/每颗。

※   温度控制精度高、速度快:在+20℃~+95℃范围内控温速率≤5分钟,温控精度±0.5℃。

※   先进测试技术:搭载自研高速LIV测试系统,实现高速前光和背光LIV同步高效测试。

※   收纳载盘多样化:6寸蓝膜盘及2寸 Gel-Pack。

※   光谱仪任选:横河(YOKOGAWA)系列/安立(Anritsu)系列的光谱仪均可选择使用。