LD芯片测试设备（常高温）
HS-LDTS2000型 LD Chip Tester测试机是LD芯片电气和光学特性自动测试、判定及分选的高速双温测试机。温控系统采用高效TEC，实现快速升温及降温，可满足在+20℃至+95℃范围内测试。采用大光敏面PD探测器进行光功率数据的采样转换，测试数据的再现性和重复性稳定可靠、数据准确。
特点：
※ 测试速度快：循环交替测试、提高工作效率，测试时间≤5.5秒/每颗。
※ 温度控制精度高、速度快：在+20℃~+95℃范围内控温速率≤5分钟，温控精度±0.5℃。
※ 先进测试技术：搭载自研高速LIV测试系统，实现高速前光和背光LIV同步高效测试。
※ 收纳载盘多样化：6寸蓝膜盘及2寸 Gel-Pack。
※ 光谱仪任选：横河（YOKOGAWA）系列/安立(Anritsu）系列的光谱仪均可选择使用。
