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自动化耦合机
高精度 | 数据跟踪 | 通讯速率可达10ms

5 个产品
  • COC BI测试设备

    LQ-COCT2000是一款针对弹片式载具中的COC产品在Burn-in前&后进行LIV和光谱自动测试的设备。智能数据系统能精确存储每个弹片载具中COC产品的测试数据及产品Burn-in前&后的各项测试数据的比对分析。设备搭载能容纳20个弹片式载具自动上下料的料仓;配备精密温控测试台、光&电测试模组、供电系统各两组,交替测试从而节省加热等待时间,最大程度提升配套测试仪器的利用率和提高设备的产能。

    223 ¥ 0.00
  • COC 测试设备

    LQ-BI114 测试设备是专门针对COC器件的老化测试开发的一款设备。设备主体采用框架式结构,载具采用可分离式“抽屉”形式,每个抽屉可独立控温。载具采用标准快插式电气接口,可根据不同产品设计不同载具在同一平台内测试。

    342 ¥ 0.00
  • LD芯片测试设备(常高温)

    HS-LDTS2000型 LD Chip Tester测试机是LD芯片电气和光学特性自动测试、判定及分选的高速双温测试机。温控系统采用高效TEC,实现快速升温及降温,可满足在+20℃至+95℃范围内测试。采用大光敏面PD探测器进行光功率数据的采样转换,测试数据的再现性和重复性稳定可靠、数据准确。

    388 ¥ 0.00
  • BAR TESTER

    用于光电生产企业的BAR条(LD芯片)光电性能检测,可测试长波长激光器BAR条的常温、高温条件下的前光的LIV参数和光谱参数,设备自动化程度高,图像算法智能,支持多种封装的BAR条多种参数测试,有利于生产企业提高测试效率,提高产品的品质把控。

    526 ¥ 0.00
  • LD芯片测试设备(低温)

    HS-LDTS1000 LDchip测试设备是一款用于LD芯片光电性能检测,可测试长波长激光器(-40℃至-90℃温度条件下)的前光、背光的LIV参数和光谱参数,设备自动化程度高,图像算法智能,支持正面及端面AOI外观检测&OCR字符识别,有利于生产企业提高测试效率,提高产品的品质把控。

    1035 ¥ 0.00