COC测试设备

COC 测试设备

LQ-BI114 测试设备是专门针对COC器件的老化测试开发的一款设备。设备主体采用框架式结构,载具采用可分离式“抽屉”形式,每个抽屉可独立控温。载具采用标准快插式电气接口,可根据不同产品设计不同载具在同一平台内测试。

特点:

※  LQ-BI114老化测试设备适用高功率半导体激光器老化和寿命测试。

※  一个系统具有11个独立温层,每层4个抽屉式测试载具,可以同时测试1408颗激光器。

※  系统可同时进行多种独立测试。

※  系统可测试高功率激光器LIV特性。

※  每个夹具可单独进行温度控制,控温范围40℃到150℃,温度稳定性小于1℃。

※  设备软件具有强大数据记录,数据备份功能,设备具备MES等多种通讯接口。