HS-LDTS1000LD芯片测试设备-低温

LD芯片测试设备(低温)

HS-LDTS1000 LDchip测试设备是一款用于LD芯片光电性能检测,可测试长波长激光器(-40℃至-90℃温度条件下)的前光、背光的LIV参数和光谱参数,设备自动化程度高,图像算法智能,支持正面及端面AOI外观检测&OCR字符识别,有利于生产企业提高测试效率,提高产品的品质把控。

特点:

※ 上下料,测试及分选全过程完全全自动进行。

※   超高清CCD视觉双视野定位系统,可自动识别芯片排列角度及位置

※   搭载自研高速LIV测试系统,实现高速前光和背光LIV同步高效测试,同时匹配横河光谱仪也可进行光谱测试

※   温控系统采用高效TEC,可满足芯片在-40℃、+25℃、+90℃的测试需求

※    支持正面及端面AOI外观检查&OCR字符识别

※    可对产品进行等级分类收纳

※    I-L、FFP、λ特性为基本测试项目。如有需求,亦可灵活对应各种特殊测试

※    设备与测试仪器通讯及算法为本公司独立开发

※    设备具备自动校准功能,可保证测试数据准确