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HS-LDTS1000 LD芯片测试设备（低温）

一款用于LD芯片光电性能检测，可测试长波长激光器（-40℃至90℃温度条件下）的前光、背光的LIV参数和光谱参数，设备自动化程度高，图像算法智能，支持正面及端面AOI外观检测&OCR字符识别，有利于生产企业提高测试效率，提高产品的品质把控。

优点：

※高效TEC温控系统

※全自动上下料系统

※全自动测试&分选系统

※超高清CCD双视野定位系统

※前光&背光LIV同步高效测试

※可对产品进行等级分类收纳