COC 测试设备
LQ-BI114 测试设备是专门针对COC器件的老化测试开发的一款设备。设备主体采用框架式结构，载具采用可分离式“抽屉”形式，每个抽屉可独立控温。载具采用标准快插式电气接口，可根据不同产品设计不同载具在同一平台内测试。
特点：
※ LQ-BI114老化测试设备适用高功率半导体激光器老化和寿命测试。
※ 一个系统具有11个独立温层，每层4个抽屉式测试载具，可以同时测试1408颗激光器。
※ 系统可同时进行多种独立测试。
※ 系统可测试高功率激光器LIV特性。
※ 每个夹具可单独进行温度控制，控温范围40℃到150℃，温度稳定性小于1℃。
※ 设备软件具有强大数据记录，数据备份功能，设备具备MES等多种通讯接口。
