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自动化耦合机
高精度 | 数据跟踪 | 通讯速率可达10ms

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共 6 个产品

  • HS-LDTS1000 LD芯片测试设备（低温）

    一款用于LD芯片光电性能检测，可测试长波长激光器（-40℃至90℃温度条件下）的前光、背光的LIV参数和光谱参数，设备自动化程度高，图像算法智能，支持正面及端面AOI外观检测&OCR字符识别，有利于生产企业提高测试效率，提高产品的品质把控。

    넶655 ¥ 0.00

  • COC BI测试设备

    LQ-COCT2000是一款针对弹片式载具中的COC产品在Burn-in前&后进行LIV和光谱自动测试的设备。智能数据系统能精确存储每个弹片载具中COC产品的测试数据及产品Burn-in前&后的各项测试数据的比对分析。设备搭载能容纳20个弹片式载具自动上下料的料仓；配备精密温控测试台、光&电测试模组、供电系统各两组，交替测试从而节省加热等待时间，最大程度提升配套测试仪器的利用率和提高设备的产能。

    넶1846 ¥ 0.00

  • COC 测试设备

    LQ-BI114 测试设备是专门针对COC器件的老化测试开发的一款设备。设备主体采用框架式结构，载具采用可分离式“抽屉”形式，每个抽屉可独立控温。载具采用标准快插式电气接口，可根据不同产品设计不同载具在同一平台内测试。

    넶2613 ¥ 0.00

  • LD芯片测试设备（常高温）

    HS-LDTS2000型 LD Chip Tester测试机是LD芯片电气和光学特性自动测试、判定及分选的高速双温测试机。温控系统采用高效TEC，实现快速升温及降温，可满足在+20℃至+95℃范围内测试。采用大光敏面PD探测器进行光功率数据的采样转换，测试数据的再现性和重复性稳定可靠、数据准确。

    넶2539 ¥ 0.00

  • BAR TESTER

    用于光电生产企业的BAR条（LD芯片）光电性能检测，可测试长波长激光器BAR条的常温、高温条件下的前光的LIV参数和光谱参数，设备自动化程度高，图像算法智能，支持多种封装的BAR条多种参数测试，有利于生产企业提高测试效率，提高产品的品质把控。

    넶2734 ¥ 0.00