LD芯片测试设备（低温）

特点：

※ 上下料，测试及分选全过程完全全自动进行。

※   超高清CCD视觉双视野定位系统，可自动识别芯片排列角度及位置

※   搭载自研高速LIV测试系统，实现高速前光和背光LIV同步高效测试，同时匹配横河光谱仪也可进行光谱测试

※   温控系统采用高效TEC，可满足芯片在-40℃、+25℃、+90℃的测试需求

※    支持正面及端面AOI外观检查&OCR字符识别

※    可对产品进行等级分类收纳

※    I-L、FFP、λ特性为基本测试项目。如有需求，亦可灵活对应各种特殊测试

※    设备与测试仪器通讯及算法为本公司独立开发

※    设备具备自动校准功能，可保证测试数据准确